sem和om全称
2020-08-14 02:20:47
- 相关推荐
光学显微镜(Opticalmicroscopy,OM)、扫描电子显微镜(Scanningelectron
microscopy, SEM
扫描电镜分析可以提供从数纳米到毫米范围内的形貌像,观察视野大,其分辩率一般为6纳米,对于场发射扫描电子显微镜,其空间分辩率可以达到0.5纳米量级。
其提供的信息主要有材料的几何形貌,粉体的分散状态,纳米颗粒大小及分布以及特定形貌区域的元素组成和物相结构。扫描电镜对样品的要求比较低,无论是粉体样品还是大块样品,均可以直接进行形貌观察
阅读剩余内容